热售*声波测厚仪 进口38DL PLUS测厚仪 *高级设备

仅供科研

热售*声波测厚仪  进口38DL PLUS测厚仪   *高级设备

【产品名称】Panametrics 38DL PLUS OLYMPUS*声波测厚仪

【产品型号】Panametrics 38DL PLUS

【*声波测厚仪技术参数】

 显示：彩色透反VGA显示液晶显示，显示屏尺寸：56.16毫米 X 74.88毫米

检波全波：RF波、正半波、负半波

输入/输出：USB1.0从接口。RS-232有。

存储卡较为大容量：2 GB外置MicroSD存储卡。视频输出VGA输出标准。

内置数据记录器：数据记录器38DL PLUS通过标准RS-232串口或USB端口识别、存储、回放、清除、传输厚度读数、波形图像和仪器配置信息。容量475000个厚度测量读数，或20000个带厚度值的波形文件名称、ID编码及注释32位字符的文件名，20位字符的字母数字位码，每个位有四个注释。文件结构9个标准的或自定义的用于特定应用的文件结构。

报告机载：报告总结了数据统计、带有位置信息的较为小值/较为大值、较为小值回顾、文件比较及报警报告。

软件选项

38DLP-OXIDE (U8147014)：使用编码激活的内部氧化层测量软件。

38DLP-HR (U8147015)：使用编码激活的高分辨率测量软件。

38DLP-MM (U8147016)：使用编码激活的多层测量软件。

38DLP-HP (U8147017)：使用编码激活的高穿透（低频）测量软件。

选购附件

38DLP/EW (U8778348)：3年保修。

1/2XA/E110 (U8767104)：用于E110-SB EMAT探头的滤波器适配器。

38-9F6 (U8840167)：RS-232线缆

38-C-USB-IP67 (U8800998)：USB线缆，用于符合IP67标准的密封操作。

38DLP/RFS (U8780288)：脚踏开关，厂内安装。

HPV/C (U8780124)：数字式卡尺线缆，用于在测量声速时进行厚度输入。

38DLP-V-CC (U8840172)： 数字式卡尺线缆。

38DLP/BCW/NC (U8780289)：棒材编码读取器。

EPLTC-C-VGA-6 (U8840035)：VGA输出线缆。

MICROSD-ADP-2GB (U8779307)：2 GB外置MicroSD存储卡。技术规格

测量

双晶探头测量模式从激励脉冲后的延时到*个回波之间的时间间隔。

穿透涂层测量模式利用单个底面回波（使用D7906-SM和D7908探头），测量金属的实际厚度和涂层厚度。

穿透漆层回波到回波测量模式在两个连续底面回波之间的时间间隔，不计漆层或涂层的厚度。

单晶探头测量模式模式1：激励脉冲与*个底面回波之间的时间间隔。

模式2：延迟线回波与*个底面回波之间的时间间隔（使用延迟线式或水浸式探头）。

模式3：在激励脉冲之后，位于*个表面回波后的相邻底面回波之间的时间间隔（使用延迟线式或水浸式探头）。

氧化层模式：可选。

多层模式：可选。

厚度范围：0.080毫米～635.00毫米，视材料、探头表面条件、温度和所选配置而定。

材料声速范围：0.508 mm/μs～13.998 mm/μs

分辨率（可选择）低分辨率：0.1毫米

标准分辨率：0.01毫米

高分辨率（可选项）：0.001毫米

探头频率范围标准：2.0 MHz～30 MHz（-3 dB）

高穿透（可选项）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB）

一般规格：工作温度范围-10°C～50°C键区密封、以色彩区分功能的键盘，带有触感及声音反馈。机壳防撞击、防水、装有密封垫的机壳；机壳上的接口密封。设计符合IP67标准。

外型尺寸（宽 x 高 x 厚）总体尺寸：125毫米x211毫米x46毫米

重量：0.814公斤

电源AC/DC适配器：24V锂离子电池，23.760 Wh；或4节AA辅助电池。

锂离子电池供电时间工作时间：较为少12.6小时，一般14小时，较为多14.7小时。快速充电：2小时到3小时。标准设计符合EN15317标准。

【数字*声波测厚仪产品特点】

PLUS测厚仪是一款开创*声测厚技术新时代的创新型仪器。这款手持式测厚仪可*地适用于几乎所有*声测厚应用，而且与所有双晶和单晶探头*兼容。功能齐全的38DL

PLUS测厚仪可用于各种应用，包括使用双晶探头对内壁腐蚀的管件进行的管壁减薄的测量，以及使用单晶探头对薄壁或多层材料进行的极其的壁厚测量。

38DL

PLUS的标准配置带有很多既强大又易于使用的测量功能，以及一些于某些特殊应用的软件选项。其密封机壳的设计符合IP67评级要求，可以抵御极其潮湿或多沙尘的严酷的环境条件。彩色透反VGA显示功能使得测厚仪显示屏无论在明亮的阳光下还是在*的黑暗中都能具有的可视性。测厚仪的键区既简洁又符合人体工程学的要求。操作人员使用左手或右手即可轻易访问所有功能。

主要特性

• 可与双晶和单晶探头兼容。

• 宽泛的厚度范围：0.08毫米～635毫米，根据材料和所选探头而定。

• 使用双晶探头进行腐蚀测厚。

• 穿透涂层和回波到回波测量功能，用于测量表面带有漆层和涂层的材料。

• 内部氧化层/沉积物软件选项。

• 对于所有探头，标准分辨率为0.01毫米。

• 使用频率范围为2.25 MHz～30 MHz的单晶探头，高分辨率软件选项可进行分辨率为0.001毫米的厚度测量。

• 多层软件选项可对多达4个不同层同时进行测量。

• 高穿透软件选项用于测量纤维玻璃、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料。

• 厚度、声速和渡越时间测量。

• 差分模式和缩减率模式。

• 时基B扫描模式；每次扫查可获得10000个可查读数。

• 带有数字式过滤器的Olympus高动态增益技术。

• 用于自定义V声程补偿的V声程创建功能。

• 设计符合EN15317标准。

这款测厚仪与其他测厚仪有何不同？

38DL PLUS测厚仪的设计宗旨是满足苛刻的应用要求，而且可在野外和生产现场的恶劣条件下正常工作。无论检测现场多么潮湿、有多大的尘沙、多么寒冷或多么炎热、多么明亮或多么黑暗，38DL PLUS都可以正常进行检测工作。如果您需要一款防撞击、防坠落、坚固结实的测厚仪器，那么，符合IP67评级标准、带有橡胶保护套的38DL PLUS正是您要寻找的仪器。

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